2004-08-22 至 2004-08-26
共 1 位
| 系統識別號 | C09401116 |
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| 主題分類 | 文化藝術 |
| 施政分類 | 文化傳播 |
| 計畫名稱 | 赴東京文化財研所考察 |
| 報告名稱 | 赴東京文化財研所考察 |
| 電子全文檔 | |
| 報告日期 | 2004-08-30 |
| 報告書頁數 | 15 |
| 出國期間 | 2004-08-22 至 2004-08-26 |
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| 前往地區 |
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| 參訪機關 | |
| 出國類別 | 考察 |
| 關鍵詞 | 東京文化財研究所高精細彩色數位照相可見光域內的螢光數位照相紅外線數位照相螢光X線分析裝置分光光度計裝置 |
| 計畫主辦機關 | 國立故宮博物院 | ||||||||||
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| 出國人員 |
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| 本次考察計參觀東京文化財研究所情報調整室、保存科學部化學研究室兩個單位。考察項目包括「高精細彩色數位照相」、「可見光域內的螢光數位照相」、「紅外線數位照相」、「螢光X線分析裝置」、「分光光度計裝置」五項。這些不同的數位與非數位的科技檢測,均為未來數位博物館甚至其他科學檢測計畫,提供了可供參考、借鏡的寶貴經驗。 |
| 前往原始報告頁面：http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09401116 |