出國期間

2003-08-17 至 2003-08-24

前往地區

  • 美國

出國人數

共 1 位

基本資料
系統識別號 C09203108
主題分類 公共工程
施政分類 工程管理
計畫名稱 赴美國參加二00三年國際電機電子工程師協會(IEEE)電磁相容檢測技術論文研討會
報告名稱 赴美國參加二00三年國際電機電子工程師協會(IEEE)電磁相容檢測技術論文研討會
電子全文檔
報告日期 2003-11-10
報告書頁數 11
其他資料
出國期間 2003-08-17 至 2003-08-24
前往地區
  1. 美國
參訪機關
出國類別 其他
關鍵詞 IEEE,感測元件
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部標準檢驗局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
謝翰璋 經濟部標準檢驗局 第六組 科長 薦任
報告內容摘要
本次IEEE研討會台灣共計發表五篇技術論文,其中包括中山大學三篇、交通大學及本局各一篇,此行參加EMC研討會除發表論文外,最重要的當然是要了解整個EMC的國際動向.現今歐美各國無線通信量測技術,仍以美國FCC執牛耳,就如最新SAR之量測,已提升至裝載有WLAN之行動裝置均需符合SAR驗證,國內已有少數試驗室已採購SAR量測系統,而本局雖已於2001年建置SAR量測系統,礙於當時並無2.4GHz及5.6GHz之認證規範,因此並未採購相關感測元件,今日各國開始針對該二頻道之SAR實施管制,本局實有必要增購相關感測元件(2.4GHz及5.6GHz)。此波全球經濟不景氣已持續三年有餘,國際著名之試驗室(例ITS、UL)仍持續鼓勵其工程師參與各類型研究專案,並將其成果發表於IEEE年會上,此舉實足本局學習,本局似乎有必要建置一套獎勵制度,如何鼓勵同仁投入相關量測領域研究並適時於國際年會上發表研究論文。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09203108
2013 © 公務員出國考察追蹤網 || 本來源以 公務出國報告資訊網 頒佈為準,資料僅供參考,若有不正確之處請來信(abroadplay@groups.facebook.com)與我們反應。