2012-06-24 至 2012-07-01
共 1 位
| 系統識別號 | C10102491 |
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| 主題分類 | 外交及國防 |
| 施政分類 | 國家發展及科技 |
| 計畫名稱 | 奈米雙波段紅外線偵檢器關鍵技術出國報告 |
| 報告名稱 | 奈米雙波段紅外線偵檢器關鍵技術出國報告 |
| 電子全文檔 | |
| 報告日期 | 2012-07-31 |
| 報告書頁數 | 34 |
| 出國期間 | 2012-06-24 至 2012-07-01 |
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| 前往地區 |
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| 參訪機關 | RothandRau微系統公司與JENOPTIK紅外線影像模組與系統製造公司 |
| 出國類別 | 其他 |
| 關鍵詞 | 焦平面陣列(FPA),熱像模組,砷化銦鎵/砷化鎵,砷化銦/銻化鎵材料 |
| 計畫主辦機關 | 國防部軍備局中山科學研究院 | ||||||||||
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| 出國人員 |
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