2010-09-26 至 2010-10-02
共 1 位
| 系統識別號 | C09903115 |
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| 主題分類 | 綜合行政 |
| 施政分類 | 國家發展及科技 |
| 計畫名稱 | 23rdIEEEInternATIONALsOccONFERENCE國際系統晶片研討會 |
| 報告名稱 | 赴美國內華達州拉斯維加斯參加「2010IEEESoCConference（SOCC）」國際研討會心得報告 |
| 電子全文檔 | |
| 報告日期 | 2010-12-29 |
| 報告書頁數 | 16 |
| 出國期間 | 2010-09-26 至 2010-10-02 |
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| 前往地區 |
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| 參訪機關 | 參加「2010IEEESoCConference（SOCC）」國際研討會 |
| 出國類別 | 其他 |
| 關鍵詞 | 電磁相容,系統晶片,信號完整性,電源完整性,3D-IC,SoC,IC-EMC,SI,PI |
| 計畫主辦機關 | 經濟部標準檢驗局 | ||||||||||
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| 出國人員 |
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