2011-03-28 至 2011-04-10
共 2 位
| 系統識別號 | C10001307 |
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| 主題分類 | 標準檢驗 |
| 施政分類 | 其他 |
| 計畫名稱 | 研習IC-EMC技術 |
| 報告名稱 | 赴法國國立應用科學學院(INSAToulouse)研習IC-EMC技術心得報告 |
| 電子全文檔 | |
| 報告日期 | 2011-06-15 |
| 報告書頁數 | 42 |
| 出國期間 | 2011-03-28 至 2011-04-10 |
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| 前往地區 |
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| 參訪機關 | Continental,EADS-IW,Freescale,INSAToulouse,IRSEEM/ESIGELEC |
| 出國類別 | 其他 |
| 關鍵詞 | 積體電路,電磁相容 |
| 計畫主辦機關 | 經濟部標準檢驗局 | |||||||||||||||
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| 出國人員 |
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| 為降低成本,半導體製程日新月異,積體電路電子元件的速度也倍數增加,但因為積體化(微小化)之故,IC內部的干擾也更加嚴重,因而衍伸出積體電路電磁相容(IC-EMC)的干擾與耐受性測試或是模型的需求。目前歐洲在這方面的技術仍然領先,主因是汽車半導體市場在當地的蓬勃發展,尤其是法國土魯斯(Toulouse)當地更是IC-EMC的主導地區,因此本次行程經由法國INSA安排進行為期約兩週的最新技術指導以及當地重要技術單位的參訪,使參與人員不論在技術或是台灣未來參與國際標準制定的管道上獲得許多的寶貴經驗與收穫。 |
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