出國期間

2010-04-12 至 2010-04-17

前往地區

  • 美國

出國人數

共 2 位

基本資料
系統識別號 C09900834
主題分類 標準檢驗
施政分類 參與國際組織活動
計畫名稱 參加2010年IECQ年會
報告名稱 參加國際電子零組件品質評估制度(IECQ)2010年會報告
電子全文檔
報告日期 2010-07-17
報告書頁數 29
其他資料
出國期間 2010-04-12 至 2010-04-17
前往地區
  1. 美國
參訪機關 國際電工委員會(IEC)電子零組件品質評估制度(IECQ)2010年會
出國類別 其他
關鍵詞 IEC,IECQ,ECCB,CTECCB,電子零組件品質評估制度,電子零件認證委員會
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部標準檢驗局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
陳介山 經濟部標準檢驗局 局長室 局長 簡任
王石城 經濟部標準檢驗局 第三組 副組長 簡任
報告內容摘要
IECQ制度乃是國際間對於電子零組件品質評估及驗證的機制,凡IECQ會員國之電子零組件產品,均可以自由銷售於其他會員國之間並免於受重複之進口檢驗。我國面對國際市場之激烈競爭與世界經濟局勢之瞬息萬變,電子業除不斷提昇產品層次與品質外,參加國際性品質認證制度,也是突破貿易障礙,拓展國際市場之行銷途徑之一。透過參與IECQ制度,可以積極反映我國產業界的需求,並在國際組織中做出貢獻,獲得國際間的肯定與重視,在IECQ國際場合展現我國經濟發展的成果,同時做好國民外交。顯見堅強的經濟發展實力及積極的工作態度,為參與相關國際組織活動,爭取我國最大權益的的有利後盾。積極參與IECQ制度,可以發揮我國產業創新研發的優勢,透過認證標準初期發展階段的實際參與,可以最大程度進行適合我國產業發展需求的規畫,提升我國相關產業的國際競爭力及市場商機。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09900834
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