2008-08-09 至 2008-08-16
共 1 位
| 系統識別號 | C09701509 |
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| 主題分類 | 科學技術 |
| 施政分類 | 學術機關 |
| 計畫名稱 | 因公赴美國 |
| 報告名稱 | 參加2008國際光學工程學會光學與光子技術展心得報告 |
| 電子全文檔 | |
| 報告日期 | 2008-09-15 |
| 報告書頁數 | 35 |
| 出國期間 | 2008-08-09 至 2008-08-16 |
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| 前往地區 |
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| 參訪機關 | SPIE |
| 出國類別 | 其他 |
| 關鍵詞 | 光學工程,光學檢測,光學元件 |
| 計畫主辦機關 | 國防部 | ||||||||||
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| 出國人員 |
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| 本報告內容包含二大部份：第一部份為2008SPIEOptics＋Photonics技術研討會內容綜整,主題包括光學設計、光學工程、薄膜鍍製與光學檢測等技術,並介紹部分與本組/本計畫技術能量相關的技術文章。第二部份為綜整2008SPIEOptics＋Photonics產品展示大會之參訪心得,拜訪光學軟體、光學鏡頭、光學元件、光學材料、光電製程設備與檢測儀器之相關廠商,討論最新產品之規格功能及技術發展趨勢。 |
| 前往原始報告頁面：http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09701509 |